合肥9月3日电 (记者 吴兰)中国科学技术大学3日消息，该校潘建伟院士、张强教授等与美国诺贝尔奖获得者弗兰克·维尔泽克合作，基于颜色擦除强度干涉的高空间分辨成像实现，并以超过单望远镜衍射极限40倍的结果验证了这一成像能力。
据悉，研究人员搭建的颜色擦除强度干涉仪，成功分辨出1.43公里距离外相距4.2毫米的两个不同波长光源，拓展了强度干涉技术的应用范围，有望被应用于天文观测、空间遥感和空间碎片探测等领域。
相关成果近日发表于国际知名学术期刊《物理评论快报》。
干涉仪被广泛用于各种高空间分辨成像技术中，但传统强度干涉方案要求进入探测器的光子全部具有相同的波长，限制了其应用范围。2016年，弗兰克·维尔泽克和其同事在理论上提出一种颜色擦除强度干涉技术。随后，潘建伟团队在实验室内原理演示了强度干涉技术。
为了验证该技术具备高空间分辨成像能力，研究团队在上海开展了外场实验，实现了无法分辨1063.6纳米和1064.4纳米光子差异的颜色擦除探测器，并用两个这样的探测器搭建了80厘米基线长度的强度干涉仪，对1.43公里外的相距4.2毫米的两个不同波长光源目标进行测量，结果超过实验所使用的单台10.9毫米望远镜衍射极限的40倍，成功验证了该系统的高空间分辨成像能力。(完) 【编辑:王诗尧】
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